手機(jī)檢測(cè)程序
本文件描述了手機(jī)試產(chǎn)時(shí)，中試過(guò)程中整機(jī)所要進(jìn)行的檢測(cè)項(xiàng)目和檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
CONTENTS
1 簡(jiǎn)介  4
1.1  目的  4
1.2  適用范圍  4
1.3  責(zé)任  4
1.4  參考文獻(xiàn)  4
1.5  定義  4
2  程序內(nèi)容  5
2.1  測(cè)試項(xiàng)目  5
2.1.1  電性能測(cè)試  5
2.1.2  ESD測(cè)試  5
2.1.3  軟件功能測(cè)試  5
2.1.4  環(huán)境測(cè)試  5
2.1.5  壽命測(cè)試  5
2.1.6  機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試  5
2.1.7  其它測(cè)試  5
3  測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)  6
3.1  電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)  6
3.2  功能/軟件測(cè)試  6
3.3  ESD靜電測(cè)試  6
3.4  環(huán)境測(cè)試  6
3.5  壽命測(cè)試  8
3.6  機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試  9
3.7  其它測(cè)試  10
4  附件  12
1 簡(jiǎn)介
1.1  目的
制定JCT整機(jī)中試過(guò)程中的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。
1.2  適用范圍
本程序書(shū)適用于JCT中試過(guò)程中的整機(jī)。
1.3  責(zé)任
中試工程師、品質(zhì)工程師、OEM廠家。
1.4  參考文獻(xiàn)
JMG-2003-PT-0003-SP-A 《JCT GSM手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》
JMG-2003-PT-0006-SP-A 《JCT GPRS手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》
JMG-2003-PT-0007-SP-A 《JCT CDMA手機(jī)中試測(cè)試程序書(shū)》
JMG-2003-PT-0005-SP-A 《JCT手機(jī)軟件功能測(cè)試規(guī)程》　
1.5  定義
ESD：electrostatic discharge
2  程序內(nèi)容
2.1  測(cè)試項(xiàng)目
2.1.1  電性能測(cè)試
根據(jù)待測(cè)手機(jī)的機(jī)型，選擇選擇相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)，測(cè)試手機(jī)的各項(xiàng)電性能指標(biāo)；
2.1.2  ESD測(cè)試
測(cè)試手機(jī)在靜電環(huán)境中的性能；
2.1.3  軟件功能測(cè)試
測(cè)試用戶(hù)手冊(cè)規(guī)定的各項(xiàng)功能，以及模擬軟件的使用條件，測(cè)試軟件的性能；
2.1.4  環(huán)境測(cè)試
模擬手機(jī)使用的各種惡劣環(huán)境，測(cè)試其性能是否達(dá)到要求；主要包括溫度沖擊、高、低溫、濕熱、鹽霧等測(cè)試。
2.1.5  壽命測(cè)試
測(cè)試各易損部件的工作壽命是否達(dá)到規(guī)格要求；主要包括背光、馬達(dá)、電池、振鈴、按鍵測(cè)試；
2.1.6  機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試
測(cè)試手機(jī)機(jī)械結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度以及關(guān)鍵部件的器抗磨損性；主要包含振動(dòng)測(cè)試、跌落測(cè)試、沖擊測(cè)試、翻蓋強(qiáng)度及耐磨測(cè)試等。
2.1.7  其它測(cè)試
主要包括：鈴聲測(cè)試、時(shí)鐘維持測(cè)試、zui長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間、zui長(zhǎng)通話(huà)時(shí)間、待機(jī)電流及電池與旅充通配測(cè)試。
3  測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
3.1  電性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
根據(jù)待測(cè)手機(jī)的機(jī)型，選擇«GSM 中試測(cè)試程序書(shū)»、«GPRS 中試測(cè)試程序書(shū)»或«CDMA中試測(cè)試程序書(shū)»作為標(biāo)準(zhǔn)，來(lái)測(cè)試手機(jī)的電性能。并作好相關(guān)記錄。
3.2  功能/軟件測(cè)試
根據(jù)用戶(hù)手冊(cè)的內(nèi)容，詳細(xì)測(cè)試手機(jī)的各項(xiàng)功能；以及人為使手機(jī)軟件的負(fù)荷zui大化（如使本、短消息信箱全部填滿(mǎn)，鬧鐘全部設(shè)置等），然后測(cè)試軟件的性能是否達(dá)到要求。具體測(cè)試流程及規(guī)范參見(jiàn)《手機(jī)軟件測(cè)試規(guī)程》。
3.3  ESD靜電測(cè)試
手機(jī)在充電和通話(huà)狀態(tài)時(shí)，進(jìn)行接觸放電和空氣放電測(cè)試，其中：
1.  接觸放電為±4KV,對(duì)導(dǎo)電裝飾圈、裝飾牌不同的位置連續(xù)放電各10次后對(duì)地放電,要求：通話(huà)不中斷，屏幕不閃爍，應(yīng)無(wú)黑屏，黑條等；
2.  空氣放電±8KV，對(duì)翻蓋底殼/面殼、大小LCD四周、受話(huà)器、主機(jī)按鍵及主機(jī)底殼等處連續(xù)放電10次以上，檢查LCD顯示和通話(huà)狀況應(yīng)良好。
完成后要作好記錄，即填寫(xiě)附件1、附件2、附件3、附件4。
3.4  環(huán)境測(cè)試  
1  高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)  T=60±2°C，試驗(yàn)時(shí)間24小時(shí)，回溫2H后檢測(cè)。  10  試驗(yàn)中手機(jī)帶電池處于斷電狀態(tài)    
2  高溫工作試驗(yàn)  T=55±2°C，試驗(yàn)時(shí)間8小時(shí)。  10   試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間到后，立即進(jìn)行功能測(cè)試(55° C)。    
3  低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)  T=-20±2°C，試驗(yàn)時(shí)間24小時(shí)。  10  試驗(yàn)中手機(jī)帶電池處于斷電狀態(tài)    
4  低溫工作試驗(yàn)  T=-10±2°C，試驗(yàn)時(shí)間2小時(shí)。  10   試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)，試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間到后，立即進(jìn)行功能測(cè)試(-10° CC)。    
5  恒定濕熱試驗(yàn)  T=40±2°C，RH=95%±3，試驗(yàn)時(shí)間48小時(shí)。時(shí)間到后立即進(jìn)行功能測(cè)試。   10  試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)，且手機(jī)翻蓋處于打開(kāi)狀態(tài)(使大LCD也處于工作狀態(tài))，     
6  濕熱循環(huán)試驗(yàn)  箱溫以不大于1C/MIN速度變到4 0°C，RH:95%，保持1H；再以不大于1C/MIN速度變到-10°C，保持1H；循環(huán)20回。循環(huán)期滿(mǎn)，回溫2H。   10  試驗(yàn)中手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)    
7  鹽霧試驗(yàn)  用氯化鈉含量為5±1%的鹽溶液；溫度在35°C時(shí)，噴霧后的收集液，PH值為 6.5~7.2。允許用稀釋后的化學(xué)純鹽酸或*調(diào)整PH值。試驗(yàn)有效空間溫度為35°C；連續(xù)噴霧的試驗(yàn)時(shí)間為24H；持續(xù)期滿(mǎn)后在箱內(nèi)恢復(fù)到正常 大氣條件，穩(wěn)定后保持2H。  2  試驗(yàn)中手機(jī)處于關(guān)機(jī)狀態(tài)，手機(jī)拿出來(lái)后用純凈水將其殼表面擦拭干凈，并放 入55°C高溫箱中0.5H烘干后測(cè)試。    
8  溫度沖擊試驗(yàn)  T=+70/-40±5°C，高溫和低溫各保持2小時(shí)，循環(huán)次數(shù)12次，時(shí)間滿(mǎn)后回溫 2H  10  試驗(yàn)中手機(jī)處于機(jī)頭狀態(tài)(即不帶電池)    
3.5  壽命測(cè)試
序號(hào)  測(cè)試項(xiàng)目  測(cè)試條件/標(biāo)準(zhǔn)  數(shù)量  注意事項(xiàng)  相關(guān)作業(yè)指導(dǎo)書(shū)  備注
1  機(jī)械按鍵壽命試驗(yàn)  以50~60次/分鐘的速度，3.5N的力度均勻按鍵，應(yīng)能達(dá)到10萬(wàn)次以上，每2 萬(wàn)次檢查1次。  2      
2  人手按鍵  對(duì)手機(jī)用人手按鍵，每部手機(jī)按鍵20000次，按鍵結(jié)束后，功能應(yīng)正常。每個(gè)鍵輪流按一遍為一次。  10      
3  電池/SIM插拔試驗(yàn)  插入SIM卡再裝上電池，然后取下電池拔出SIM卡，累計(jì)5000次以上。  5      
4  耳機(jī)插拔試驗(yàn)  將耳機(jī)垂直插入耳機(jī)孔后，再垂直拔出，如此反復(fù)，累計(jì)5000次以上。  5      
5  I/O口插拔試驗(yàn)  插入充電器再拔下，累計(jì)5000次以上。  5  手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)    
6  翻蓋壽命試驗(yàn)  以25~30次/分鐘的速度翻動(dòng)翻蓋，來(lái)回為1次，要求翻蓋達(dá)到zui大轉(zhuǎn)動(dòng)位置。每2小時(shí) 檢查1次。要求翻蓋zui少測(cè)試6萬(wàn)次。  10  手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)     
7  EL背光壽命試驗(yàn)  將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成EL背光常亮狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間不少于48小時(shí)，   5      
8  LED指示燈壽命試驗(yàn)  將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成指示燈常亮狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間不少于120小時(shí)，   5      
9  振鈴壽命試驗(yàn)  將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間振鈴狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間不少于72小時(shí)，  5      
10  受話(huà)器壽命試驗(yàn)  用聲源對(duì)準(zhǔn)每個(gè)試驗(yàn)手機(jī)進(jìn)行音頻環(huán)回，檢驗(yàn)受話(huà)器壽命，試驗(yàn)時(shí)間不少于72小時(shí)  5      
11  馬達(dá)振動(dòng)壽命  將試驗(yàn)樣機(jī)設(shè)置成長(zhǎng)時(shí)間振動(dòng)狀態(tài)，試驗(yàn)時(shí)間不少于72H，  5      
12  耳塞拉拔試驗(yàn)  1.5kg靜拉力，拉伸1分鐘，正常拉拔2000次，耳塞應(yīng)完好。  5      
3.6  機(jī)械強(qiáng)度測(cè)試 
1  自由跌落試驗(yàn)  1m高度，初速度為0自由跌落于光滑混凝土地面，每面跌落2次，7個(gè)面共計(jì)14次（第7 面為翻蓋打開(kāi)面）  10  手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)，無(wú)翻蓋手機(jī)共12次。每跌落一次，對(duì)實(shí)驗(yàn)品進(jìn)行功能檢查。     
2  重復(fù)跌落試驗(yàn)  從30cm高度，初速度為0自由跌落于2cm厚度的光滑密質(zhì)臺(tái)面，每面跌落100次，每 次間隔2s，7面共計(jì)700次，每隔20次，對(duì)實(shí)驗(yàn)品功能檢查  2  手機(jī)處于通電/通話(huà)狀態(tài)，無(wú)翻蓋手機(jī)共 600次。    
3  隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)  參數(shù)：頻率范圍5~20Hz，功率頻譜密度0.96m2/S3；頻率范圍 20~500Hz，功率頻譜密度0.96m2/S3（20Hz），其它-3dB/oct。軸向：三個(gè)軸向。持續(xù)時(shí)間：每方向1小時(shí)，共三小時(shí)。   10  手機(jī)處于待機(jī)狀態(tài)    
4  人手拍翻蓋測(cè)試  在開(kāi)機(jī)的狀態(tài)下，以15次/分的速度手拍翻蓋，實(shí)驗(yàn)次數(shù)3000次，檢查有無(wú)掉電、掉 網(wǎng)、死機(jī)等現(xiàn)象，電池有無(wú)失去電壓或扣位松動(dòng)等顯現(xiàn)。  10       
5  螺旋式天線(xiàn)強(qiáng)度試驗(yàn)  以12Ncm力裝配10次。每次裝配到位后，用2kg力的力拉天線(xiàn)，應(yīng)無(wú)松動(dòng)、脫落等現(xiàn)象。  5      
6  伸縮式天線(xiàn)強(qiáng)度試驗(yàn)  以5kg力將天線(xiàn)頭部沿垂直力方向拉伸1秒以上，12次/分鐘，10次。  5      
7  視窗平壓試驗(yàn)  橡膠塊直徑8mm，壓力速度1.2mm/min，垂直方向以5kg力平壓視窗3次，每次 持續(xù)5秒，主、子屏要顯示正常。  10      
8  正面平壓試驗(yàn)  以接觸面積為整面，方向垂直的25kg力正面平壓手機(jī)各面（除I/O面和天線(xiàn)面），持續(xù) 10秒，平壓3次，應(yīng)無(wú)異常。  10      
3.7  其它測(cè)試  
1  鈴聲測(cè)試  將手機(jī)放在距手持分貝儀30CM處，檢測(cè)手機(jī)鈴聲大小，應(yīng)大于75DB。  10      
2  時(shí)鐘維持測(cè)試  1．  手機(jī)充滿(mǎn)電后，開(kāi)機(jī)24H，檢查手機(jī)走時(shí)是否準(zhǔn)確。2．   手機(jī)充滿(mǎn)電后，取下電池，24H后檢查手機(jī)走是是否準(zhǔn)確。  10       
3  zui長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間  手機(jī)充滿(mǎn)電后，插上SIM卡，測(cè)量其zui長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間。  10      
4  zui長(zhǎng)通話(huà)時(shí)間  手機(jī)充滿(mǎn)電后，讓其連續(xù)與測(cè)試臺(tái)通話(huà)，直到手機(jī)電池缺電。測(cè)量zui長(zhǎng)通話(huà)時(shí)間。   5  同時(shí)注意是否有其他異?，F(xiàn)象。    
5  待機(jī)電流  用萬(wàn)用表測(cè)量手機(jī)待機(jī)時(shí)的電流  10      
6  電池與旅充通配測(cè)試  旅充與各廠家的電池配合做長(zhǎng)時(shí)間充電實(shí)驗(yàn)，檢查手機(jī)充電顯示有無(wú)異常，電池電量能 否充足。  10  實(shí)驗(yàn)手機(jī)一半處于插卡開(kāi)機(jī)狀態(tài)，一半處于關(guān)機(jī)狀態(tài)；且分帶卡和不帶卡兩種。     
4  附件
附表1： JCT手機(jī)模擬靜電測(cè)試記錄表 （1/4）
附表2： JCT手機(jī)模擬靜電測(cè)試記錄表 （2/4）
附表3： JCT手機(jī)模擬靜電測(cè)試記錄表 （3/4）
附表4： JCT手機(jī)模擬靜電測(cè)試記錄表 （4/4）
附表5： JCT 1M自由跌落試驗(yàn)測(cè)試記錄表
附表6：　JCT 30CM自由跌落試驗(yàn)測(cè)試記錄表
附表7：　相關(guān)記錄
附表一
JCT手機(jī)ESD測(cè)試記錄表 （1/4）
項(xiàng)目  空氣放電（帶充電器測(cè)試）溫度 25℃
標(biāo)準(zhǔn)  +8KV
位置  大LCD  小LCD  受話(huà)器  按鍵、主底
狀態(tài)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)    通話(huà)  待機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)  -8KV
位置  大LCD  小LCD  受話(huà)器  按鍵、主底
狀態(tài)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)    通話(huà)  待機(jī)
附表2：
JCT手機(jī)ESD測(cè)試記錄表 （2/4）
項(xiàng)目  空氣放電（不帶充電器測(cè)試）溫度 25℃
標(biāo)準(zhǔn)  +8KV
位置  大LCD  小LCD  受話(huà)器按鍵、主底
狀態(tài)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)
標(biāo)準(zhǔn)  -8KV
位置  大LCD  小LCD  受話(huà)器按鍵、主底
狀態(tài)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  待機(jī)  通話(huà)
附表3：
JCT手機(jī)ESD測(cè)試記錄表 （3/4）
項(xiàng)目  接觸放電（不帶充電器測(cè)試）溫度 25℃
標(biāo)準(zhǔn)  +4KV
位置  U型裝飾圈  裝飾牌  銘牌
編號(hào)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)  -4KV
位置  U型裝飾圈  裝飾牌  銘牌
編號(hào)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)
附表4：
   JCT手機(jī)ESD測(cè)試記錄表 （4/4）
項(xiàng)目  接觸放電（帶充電器測(cè)試）溫度 25℃
標(biāo)準(zhǔn)  +4KV
位置  U型裝飾圈  裝飾牌  銘牌
狀態(tài)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)
標(biāo)準(zhǔn)  -4KV
位置  U型裝飾圈  裝飾牌  銘牌
狀態(tài)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)  通話(huà)  待機(jī)
附表5：
JCT 1M自由跌落試驗(yàn)測(cè)試記錄表
機(jī)型：  　  測(cè)試條件：從 1M高度自由跌落在水泥地板上，跌落6或7個(gè)面，每個(gè)面2次，每跌落一次，對(duì)實(shí)驗(yàn)品進(jìn)行功能檢查。
面數(shù)  編號(hào)  編號(hào)  編號(hào)  編號(hào)  編號(hào)  編號(hào)
  *次  第二次  *次  第二次   *次  第二次  *次  第二次  *次   第二次  *次  第二次
I/O面                         
天線(xiàn)面                         
左側(cè)面                         
右側(cè)面                         
底面                         
翻蓋面                         
翻蓋打開(kāi)面                         
功能不合格項(xiàng)詳細(xì)說(shuō) 明  
附表6：
JCT 30CM重復(fù)跌落試驗(yàn)測(cè)試記錄表
機(jī)型    測(cè)試條件：從 30以Cm高度自由跌落至光滑密質(zhì)臺(tái)面，跌落6或7個(gè)面，每個(gè)面100次，每20次進(jìn)行一次功能檢測(cè)。
編號(hào)  編號(hào)：  編號(hào)：
  1-20  2-20  3-20  4-20   5-20  備注  1-20  2-20  3-20   4-20  5-20  備注
I/O面                         
天線(xiàn)面                         
左側(cè)面                         
右側(cè)面                         
底面                         
翻蓋面                         
翻蓋打開(kāi)面                         
功能不合格項(xiàng)詳細(xì)說(shuō)明   
附表7：
相關(guān)記錄
序號(hào)  記錄名稱(chēng)  保存者  保存期限  保存地點(diǎn)
1  手機(jī)ESD測(cè)試記錄  中試工程師  2年  MFG　office
2  手機(jī)高溫儲(chǔ)存試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
3  手機(jī)高溫工作試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
4  手機(jī)低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
5  手機(jī)低溫工作試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
6  手機(jī)恒定濕熱試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
7  手機(jī)濕熱循環(huán)試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
8  手機(jī)鹽霧試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
9  手機(jī)溫度沖擊試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
10  手機(jī)機(jī)械按鍵壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
11  手機(jī)人手按鍵報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
12  手機(jī)電池/SIM插拔試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
13  手機(jī)耳機(jī)插拔試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
14  手機(jī)I/O口插拔試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
15  手機(jī)翻蓋壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
16  手機(jī)EL背光壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
17  手機(jī)LED指示燈壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
18  手機(jī)振鈴壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
19  手機(jī)受話(huà)器壽命試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
20  手機(jī)馬達(dá)振動(dòng)壽命報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
21  手機(jī)耳塞拉拔試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
22  1M跌落試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
附表8：
相關(guān)記錄（繼）
序號(hào)  記錄名稱(chēng)  保存者  保存期限  保存地點(diǎn)
23  手機(jī)重復(fù)跌落試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
24  手機(jī)隨機(jī)振動(dòng)試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
25  手機(jī)人手拍翻蓋測(cè)試報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
26  手機(jī)螺旋式天線(xiàn)強(qiáng)度試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
27  手機(jī)伸縮式天線(xiàn)強(qiáng)度試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
28  手機(jī)視窗平壓試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
29  手機(jī)正面平壓試驗(yàn)報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
30  手機(jī)鈴聲測(cè)試報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
31  手機(jī)時(shí)鐘維持測(cè)試報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
32  手機(jī)zui長(zhǎng)待機(jī)時(shí)間報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
33  手機(jī)zui長(zhǎng)通話(huà)時(shí)間報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
34  手機(jī)待機(jī)電流報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office
35  手機(jī)電池與旅充通配測(cè)試報(bào)告  中試工程師  2年  MFG　office